2018年12月11日，北京天助瑞邦影像设备有限公司谢莹和周汛两位专家到访重点实验室，重点实验室学术带头人许清风教高和固定成员高润东博士接待了两位专家，双方针对基于X射线数字成像法检测套筒灌浆饱满度技术进行了深入交流，并明确了下一步合作的方向。